光学非接触式检测技术
史陶比尔主动经纱控制2.0 (AWC 2.0)技术,旨在实现自动穿经期间纱线的全面识别和精准处理,有效提升织造准备阶段的质量稳定性。
- 光学非接触式识别:AWC 2.0 的核心在于精密摄像系统。通过光学非接触式检测,实时捕捉纱线特性并进行高精度测量,减少对纱线的物理损伤。
- 毫秒级图像分析:系统配备高性能处理器,能以毫秒级间隔分析图像,并提供待加工经纱的精确数据。
- 智能数据比对:将采集的数据与目标数据(包括预设的穿经循环数据和织机工艺基准)进行对比,从而更灵敏、更准确地检测和预防误差。
应用配备 AWC 2.0 技术的史陶比尔SAFIR系列自动穿经系统,可有效预防双经、错向等织造瑕疵,帮助织造厂改善穿经效果,进一步提升织造车间的综合生产效率。